產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
TA100超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)
TPL300穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜系統(tǒng)
LFP100閃光光解系統(tǒng)
THZ100超快時(shí)間分辨太赫茲光譜系統(tǒng)
深紫外熒光系統(tǒng)
FLIM300多功能激光掃描共聚焦熒光成像系統(tǒng)
UPSI100超快泵浦探測(cè)陰影成像系統(tǒng)
UF100超快熒光光譜系統(tǒng)
碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)
大能量DPSS Nd:YAG納秒脈沖激光器
高能高頻DPSS連續(xù)可調(diào)諧納秒激光器
高速探測(cè)器
SHG100非線性SHG測(cè)試系統(tǒng)
Z掃描測(cè)試系統(tǒng)-ZTS100
MICRO LED晶圓級(jí)綜合檢測(cè)系統(tǒng)
SiC晶圓質(zhì)量成像檢測(cè)系統(tǒng)
product
產(chǎn)品分類
MICRO LED晶圓級(jí)綜合檢測(cè)系統(tǒng)明場(chǎng)/PL檢測(cè)類型：明場(chǎng)缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析。
更新時(shí)間：2024-12-04
瀏覽量：974
鈣鈦礦太陽(yáng)能電池綜合性檢測(cè)分析系統(tǒng)檢測(cè)時(shí)間＜10 min（10cm*10cm） 空間分辨率20 μm/100μm。
更新時(shí)間：2024-12-04瀏覽量：575
碳化硅成像檢測(cè),SiC晶圓質(zhì)量成像檢測(cè)系統(tǒng)：晶圓襯底質(zhì)量（載流子壽命）高速成像，快速篩查外延片晶格質(zhì)量。
更新時(shí)間：2024-12-04瀏覽量：890
碳化硅襯底檢測(cè),碳化硅成像檢測(cè),碳化硅襯底位錯(cuò)缺陷光學(xué)無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)：最高檢測(cè)速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分類識(shí)別。
更新時(shí)間：2024-12-04瀏覽量：1356
當(dāng)前位置：
